此研讨会针对深耕光学量测技术在瑕疵检测、2d & 3d尺寸量测、白光干涉量测、光源设计、滤镜式色彩量测等技术及应用进行介绍，并针对半导体、显示器、电池、3c金属/汽车等四大产业应用进行相关案例的分享。在结构光形貌量测技术及硬体加速进行卡也有研究成果展现。
本次研讨会包含：自动光学检测
在半导体产业应用
在电池产业应用
在显示器产业应用
在金属加工与汽车产业应用
开发技术分享
结构光光学剖析技术
硬件加速量测
专业讲师 张维哲 博士
专注于自动化光学检测设备之产品开发，18年以上开发经验，主要专长领域有：以雷射二极体阵列作高速三维轮廓量测技术、相移迭纹投射之三维形貌量测技术、白光干涉技术、影像处理应用于瑕疵检测＆尺寸量测以及色彩分析技术、光学非接触式量/检测系统分析与设计、光学产品开发专案管理等
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